產品中心
Product Center這臺高分辨率顯微成像橢偏儀有別于傳統橢偏儀,這是新一代的顯微成像橢偏儀技術,它有機地結合了傳統光譜橢偏儀和光學顯微鏡技術,使得我們能夠在小至1µm的微結構上以橢偏儀的靈敏度表征薄膜厚度和折射率。顯微鏡部分能夠同時測量光學系統全視場范圍內的所有結構。
多功能高低溫真空探針臺,電-光-氣接口齊全,應用場景不受限。可實現寬溫度范圍、高真空或氣氛控制。 可與各種阻抗分析儀、LCR表、鐵電測試儀、光伏測試儀、半導體參數測試儀、源表等聯用,特別適合介電、鐵電、壓電、半導體、光伏、氣敏等功能材料與器件的溫度和氣氛依賴性測量。
布魯克的HysitronTl980Tribolndenter同時具有優異的性能、靈活性、可靠性、可用性和速度
布魯克下一代HysitronTI990TriboIndenter®為納米力學和納米摩擦學表征的性能、靈活性和可用性樹立了榜樣